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分光干涉位移型多层膜厚测量仪
si-t 系列
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追求“易用性”,使导入变得更为简单。融合 keyence 的激光位移计和分光干涉计,改变了当今膜厚测量仪的传统概念。
实现多层膜厚, 采用近红外光・没有危害, 实时在线检测,一秒1000次的采样频率,为当今膜厚测量仪的提供新的可能性。
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借助 keyence配备的光量累计功能, 类似粘附层等粗糙的表面,也可以实现稳定测量。
在拉伸制程等过程中,可以应用于上游至下游的各种场所。