分光干涉位移型多层膜厚测量仪
si-t 系列
分光干涉位移型多层膜厚测量仪 -凯发k8官网下载客户端中心
实现多层膜厚, 采用近红外光・没有危害, 实时在线检测,一秒1000次的采样频率,为当今膜厚测量仪的提供新的可能性。
产品特性
粘附层也可以稳定测量
借助 keyence配备的光量累计功能,
类似粘附层等粗糙的表面,也可以实现稳定测量。
实现广范围测量
在拉伸制程等过程中,可以应用于上游至下游的各种场所。
针对测量场景量身定制的阵容
多层位移测量型 si-t10
长距离厚度测量型 si-t80
应用
在制程内测量基材厚
涂布后的湿膜厚度测量