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实现多层膜厚, 采用近红外光・没有危害, 实时在线检测,一秒1000次的采样频率,为当今膜厚测量仪的提供新的可能性。
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借助 keyence配备的光量累计功能， 类似粘附层等粗糙的表面，也可以实现稳定测量。
在拉伸制程等过程中，可以应用于上游至下游的各种场所。
业界超细微型传感器头，超高精度，解决了内置电子零件传感次的发热问题，也不受电磁噪声影响。
传感头包括超小传感头、长距离传感头和适用于其他各种应用的专用传感头。
传感头只由光纤和镜头组成，不包含电子零件
采用近红外 sld，即使已贴附 bg 带也可测量晶片本身的厚度。即使晶片表面存在由于图案而产生的显著差异，也可实现准确的生产线上测量。
